BEIJING, 29 may (Xinhua) -- Las autoridades chinas han presentado una guía para el desarrollo de un sistema de metrología de inteligencia artificial (IA) y la construcción de capacidades relacionadas, con el fin de planificar de manera sistemática el desarrollo de las capacidades de metrología de IA del país.
La guía fue publicada por la Administración Estatal de Regulación del Mercado (SAMR, siglas en inglés) y la Comisión Nacional de Desarrollo y Reforma.
La publicación de esta guía marca un cambio crucial en el sector de IA de China, pasando de simplemente expandir el poder de cálculo y la escala a mejorar la calidad y fortalecer las capacidades fundamentales, según la SAMR.
Esto tiene una gran importancia para promover la profunda integración de la tecnología de IA con la economía real y acelerar el desarrollo de nuevas fuerzas productivas de calidad, de acuerdo con la misma fuente.
La guía se centra en seis áreas clave: apoyo fundamental, tecnología general, tecnología núcleo, estándares técnicos metrológicos, industria de servicios metrológicos y potenciación inteligente de la metrología.
El esquema del XV Plan Quinquenal (2026-2030) de China, publicado en marzo de 2026, pone claramente énfasis en la implementación integral de la iniciativa "IA Plus".
